Böckle, Stefan; Kazenwadel, Jan; Kunzelmann, Thomas; Shin, Dong-Ill; Schulz, Christof:
Single-shot laser-induced fluorescence imaging of formaldehyde with XeF excimer excitation
In: Applied Physics : B, Lasers and optics, Jg. 70 (2000), Heft 5, S. 733 - 735
2000Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Maschinenbau
Titel in Englisch:
Single-shot laser-induced fluorescence imaging of formaldehyde with XeF excimer excitation
Autor*in:
Böckle, Stefan;Kazenwadel, Jan;Kunzelmann, Thomas;Shin, Dong-Ill;Schulz, ChristofUDE
GND
110671317
GND
1148037985
LSF ID
48807
ORCID
0000-0002-6879-4826ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2000
Sprache des Textes:
Englisch