Reis, S.; Metzger, Andreas; Pohl, K.:
Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien für den aufwandsoptimierten Integrationstest
In: Informatik 2006 - Informatik für Menschen / Hochberger, Christian; Liskowsky, R. (Eds.). - Informatik 2006 - Informatik für Menschen : 2. - 6. Oktober 2006 in Dresden. 2 - Bonn: Gesellschaft für Informatik, 2006, pp. 264 - 265
2006book article/chapter in Proceedings
Economics
Title in German:
Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien für den aufwandsoptimierten Integrationstest
Author:
Reis, S.;Metzger, AndreasUDE
GND
129831530
LSF ID
12274
ORCID
0000-0002-4808-8297ORCID iD
Other
connected with university
;Pohl, K.UDE
GND
135789125
LSF ID
5105
ORCID
0000-0003-2199-5257ORCID iD
Other
connected with university
Language of text:
German
Appears in
Informatik 2006 - Informatik für Menschen
Conference
Informatik 2006 - Informatik für Menschen : 2. - 6. Oktober 2006 in Dresden. 2
Editor:
Hochberger, Christian;Liskowsky, R.
Place of publication:
Bonn
Publisher:
Gesellschaft für Informatik
Year of publication:
2006
in:
pp. 264 - 265
ISBN
9783885791881