Characterization of deformation phenomena in polymers by rapid-scanning Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy and mechanical measurements : I. The stress-induced crystalline phase transition in poly(butylene terephthalate)
In: Journal of Polymer Science : Polymer Letters Edition, Jg. 17 (1979), Heft 7, S. 453 - 458
1979Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Chemie
Titel in Englisch:
Characterization of deformation phenomena in polymers by rapid-scanning Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy and mechanical measurements : I. The stress-induced crystalline phase transition in poly(butylene terephthalate)
Autor*in:
Siesler, Heinz WilhelmUDE
- LSF ID
- 11044
- ORCID
-
0000-0002-6791-9965
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
1979
Sprache des Textes:
Englisch