Temperature stability of thin anodic oxide films in metal/insulator/metal structures : A comparison between tantalum and aluminium oxide
In: Thin Solid Films, Jg. 500 (2006), Heft 1-2, S. 330 - 335
Titel in Englisch:
Temperature stability of thin anodic oxide films in metal/insulator/metal structures : A comparison between tantalum and aluminium oxide
Autor*in:
Jeliazova, Yanka
- LSF ID
- 11102
- ORCID
-
0000-0002-5587-2557
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2006
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
Erscheinungsort:
Amsterdam
Verlag:
Elsevier
in:
Jg. 500 (2006), Heft 1-2, S. 330 - 335
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