Wende, Heiko; Chauvistre, R.; Haack, N.; Ceballos, G.; Wilhelm, F.; Baberschke, K.; Srivastava, P.; Arvanitis, D.:
Surface EXAFS study of the p4g(2×2) reconstruction of C on Ni(100) and C on Ni films
In: Surface Science, Jg. 465 (2000), Heft 3, S. 187 - 197
2000Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Surface EXAFS study of the p4g(2×2) reconstruction of C on Ni(100) and C on Ni films
Autor*in:
Wende, HeikoUDE
GND
12115226X
LSF ID
47290
ORCID
0000-0001-8395-3541ORCID iD
ORCID
0000-0002-2301-4670ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
korrespondierende*r Autor*in
;
Chauvistre, R.;Haack, N.;Ceballos, G.;Wilhelm, F.;Baberschke, K.;Srivastava, P.;Arvanitis, D.
Erscheinungsjahr:
2000
Sprache des Textes:
Englisch