Meckenstock, Ralf:
Microwave spectroscopy detected by scanning thermal microscopy : resolution in the nanometer range ; invited review article
In: Review of scientific instruments : RSI, Band 79 (2008), S. 041101-1 - 041101-29
2008Artikel/Aufsatz in ZeitschriftPhysik
Zentrale wissenschaftliche Einrichtungen » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Titel:
Microwave spectroscopy detected by scanning thermal microscopy : resolution in the nanometer range ; invited review article
Autor(in):
Meckenstock, RalfLSF
Erscheinungsjahr
2008
DOI: