Pauli, Josef:
Goal-directed, adaptive identification of IC bond inspection
In: Mustererkennung 1990 : 12. DAGM-Symposium, Oberkochen-Aalen, 24.-26. September 1990, Proceedings / Großkopf, Rudolf E. (Hrsg.). - Berlin: Springer, 1990, S. 571 - 578
1990Buchaufsatz/Kapitel in SammelwerkInformatik
Titel:
Goal-directed, adaptive identification of IC bond inspection
Autor(in):
Pauli, JosefLSF
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