Plümel, Ingo; Wiggers, Hartmut; Lorke, Axel:
In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
In: Technische Mitteilungen, Organ des Haus der Technik e.V, Vol. 99 (2006), pp. 68 - 73
2006article/chapter in journal
Mechanical Engineering
Title:
In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
Author:
Plümel, IngoUDE
LSF ID
10016
Other
connected with university
;Wiggers, HartmutUDE
GND
172637171
LSF ID
1643
ORCID
0000-0001-8487-9937ORCID iD
Other
connected with university
;Lorke, AxelUDE
GND
1042619697
LSF ID
2509
ORCID
0000-0002-0405-7720ORCID iD
Other
connected with university
Year of publication:
2006
WWW URL:
http://www.hdt-essen.de
Appears in
Technische Mitteilungen, Organ des Haus der Technik e.V
in:
Vol. 99 (2006), pp. 68 - 73
ISSN
0040-1439 Show availability online & print
Library shelfmark:
79 Z 74