Exciton sensitive microscopy of anthracene monolayers on Si(111)
In: Organic Electronics, Jg. 10 (2009), Heft 3, S. 446 - 452
2009Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » ExperimentalphysikForschungszentren » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Exciton sensitive microscopy of anthracene monolayers on Si(111)
Autor*in:
Mohamadie Buckanie, NiemmaUDE
- LSF ID
- 47171
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- LSF ID
- 48700
- ORCID
-
0000-0002-5878-2012
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2009
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
in:
Jg. 10 (2009), Heft 3, S. 446 - 452
ISSN
ZDB ID
Ressourcentyp:
Text