Hattab, Hichem; Zubkov, E.; Bernhart, Alexander; Jnawali, Giriraj; Bobisch, Christian; Krenzer, Boris; Acet, Mehmet; Möller, Rolf; Horn-von Hoegen, Michael:
Epitaxial Bi(111) films on Si(001) : strain state, surface morphology, and defect structure
In: Thin solid films, Jg. 516 (2008), Heft 23, S. 8227 - 8231
2008Artikel/Aufsatz in ZeitschriftPhysik
Fakultät für Physik » ExperimentalphysikZentrale wissenschaftliche Einrichtungen » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Titel in Englisch:
Epitaxial Bi(111) films on Si(001) : strain state, surface morphology, and defect structure
Autor(in):
Hattab, HichemLSF; Zubkov, E.; Bernhart, AlexanderLSF; Jnawali, GirirajLSF; Bobisch, ChristianLSF; Krenzer, Boris; Acet, MehmetLSF; Möller, RolfLSF; Horn-von Hoegen, MichaelLSF
Erscheinungsjahr
2008
DOI: