Thien, Dagmar; Kury, Peter; Horn-von Hoegen, Michael; Meyer zu Heringdorf, Frank; van Heys, J.; Lindenblatt, M.; Pehlke, E.:
Domain Sensitive Contrast in Photoelectron Emission Microscopy
In: Physical Review Letters, Jg. 99 (2007), Heft 19, S. 196102
2007Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » ExperimentalphysikForschungszentren » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Domain Sensitive Contrast in Photoelectron Emission Microscopy
Autor*in:
Thien, DagmarUDE
LSF ID
10445
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Kury, Peter;Horn-von Hoegen, MichaelUDE
GND
1201039908
LSF ID
10366
ORCID
0000-0003-0324-3457ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Meyer zu Heringdorf, FrankUDE
LSF ID
48700
ORCID
0000-0002-5878-2012ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;van Heys, J.;Lindenblatt, M.;Pehlke, E.
Erscheinungsjahr:
2007
DOI
10.1103/PhysRevLett.99.196102
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
Physical Review Letters
Erscheinungsort:
College Park
Verlag:
American Physical Society (APS)
in:
Jg. 99 (2007), Heft 19, S. 196102
ISSN
1079-7114 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
0031-9007 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
1472655-5
Signatur der UB:
67 P 8