Transient lattice dynamics in fs-laser-excited semiconductors probed by ultrafast x-ray diffraction
In: Journal de Physique . IV France, Jg. 11 (2001), Heft PR2, S. 473 - 477
2001Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » Experimentalphysik
Titel:
Transient lattice dynamics in fs-laser-excited semiconductors probed by ultrafast x-ray diffraction
Autor*in:
Sokolowski-Tinten, KlausUDE
- GND
- 172725364
- LSF ID
- 13459
- ORCID
- 0000-0002-7979-5357
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- GND
- 1201039908
- LSF ID
- 10366
- ORCID
- 0000-0003-0324-3457
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- GND
- 121993092X
- LSF ID
- 10402
- ORCID
- 0000-0001-5618-3879
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- LSF ID
- 50189
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2001
Abstract:
Using time-resolved x-ray diffraction ultafast lattice dynamics in fs-laser-excited crystalline bulk Ge and Ge/Si-heterostructures has been studied. This experimental technique uniquely allows us to observe fast energy transport deep into the bulk of the material, coherent acoustic phonon dynamics, lattice anharmonicity, and vibrational transport across a buried interface.