Characterization of atom and ion-induced "internal" electron emission by thin film tunnel junctions
In: Nuclear instruments & methods in physics research / Section B, Beam interactions with materials and atoms, Jg. 269 (2011), Heft 11, S. 1185 - 1189
2011Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
ChemieFakultät für Chemie » Physikalische Chemie
Titel:
Characterization of atom and ion-induced "internal" electron emission by thin film tunnel junctions
Autor*in:
Diesing, DetlefUDE
- LSF ID
- 11102
- ORCID
- 0000-0002-5587-2557
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- LSF ID
- 47555
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2011