Baberschke, K.; Wende, Heiko; Srivastava, P.; Chauvistre, R.:
New Opportunities in the Soft X-Ray Absorption to Characterize the Adsorbate Bonding
In: Journal de Physique IV - Proceedings, Jg. 7 (1997), Heft C2, S. 469 - 476
1997Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
New Opportunities in the Soft X-Ray Absorption to Characterize the Adsorbate Bonding
Autor*in:
Baberschke, K.;Wende, HeikoUDE
GND
12115226X
LSF ID
47290
ORCID
0000-0001-8395-3541ORCID iD
ORCID
0000-0002-2301-4670ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Srivastava, P.;Chauvistre, R.
Erscheinungsjahr:
1997
Sprache des Textes:
Englisch