Atomic EXAFS : evidence for photoelectron backscattering by interstitial charge densities
In: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, Band 101-103 (1999), S. 821 - 826
Titel in Englisch:
Atomic EXAFS : evidence for photoelectron backscattering by interstitial charge densities
Autor*in:
Wende, HeikoUDE
- GND
- 12115226X
- LSF ID
- 47290
- ORCID
- 0000-0001-8395-3541
- ORCID
- 0000-0002-2301-4670
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
1999
Sprache des Textes:
Englisch