Wende, Heiko; Baberschke, K.:
Atomic EXAFS : evidence for photoelectron backscattering by interstitial charge densities
In: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, Band 101-103 (1999), S. 821 - 826
1999Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Atomic EXAFS : evidence for photoelectron backscattering by interstitial charge densities
Autor*in:
Wende, HeikoUDE
GND
12115226X
LSF ID
47290
ORCID
0000-0001-8395-3541ORCID iD
ORCID
0000-0002-2301-4670ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Baberschke, K.
Erscheinungsjahr:
1999
Sprache des Textes:
Englisch