Influence of the Electron Beam on Electromigration Measurements within a Scanning Electron Microscope.
In: Applied Physics Letters, Band 90 (2007), S. 043517
2007Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)
Titel:
Influence of the Electron Beam on Electromigration Measurements within a Scanning Electron Microscope.
Autor*in:
Stahlmecke, Burkhard;Dumpich, GünterUDE
- LSF ID
- 1107
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2007