Klein, C.; Ramchal, R.; Schmid, A.K.; Farle, Michael:
Direct imaging of spin-reorientation transitions in ultrathin Ni films by spin-polarized low-energy electron microscopy.
In: Surface and Interface Analysis, Jg. 38 (2006), Heft 12-13, S. 1550 - 1553
2006Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)
Titel:
Direct imaging of spin-reorientation transitions in ultrathin Ni films by spin-polarized low-energy electron microscopy.
Autor*in:
Klein, C.;Ramchal, R.;Schmid, A.K.;Farle, MichaelUDE
GND
1029383219
LSF ID
3560
ORCID
0000-0002-1864-3261ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2006
Erschienen in
Surface and Interface Analysis
in:
Jg. 38 (2006), Heft 12-13, S. 1550 - 1553
Signatur der UB:
67 Z 6