Davies, Patrick Laurie; Meise, Monika:
Residual based localization and quantification of peaks in x-ray diffractograms
In: Annals of Applied Statistics, Jg. 2 (2008), Heft 3, S. 861 - 886
2008Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Mathematik
Titel:
Residual based localization and quantification of peaks in x-ray diffractograms
Autor*in:
Davies, Patrick LaurieUDE
LSF ID
5085
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Meise, MonikaUDE
LSF ID
5187
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2008