Davies, Patrick Laurie; Gather, U.; Meise, Monika; Mergel, Dieter; Mildenberger, T.:
Residual Based Localisation and Quantification of Peaks in X-Ray Diffractograms.
In: Annals of Applied Statistics, 2 (2008), S. 861 - 886
2008Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Mathematik
Titel:
Residual Based Localisation and Quantification of Peaks in X-Ray Diffractograms.
Autor*in:
Davies, Patrick LaurieUDE
LSF ID
5085
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Gather, U.;Meise, MonikaUDE
LSF ID
5187
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Mergel, DieterUDE
LSF ID
10490
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Mildenberger, T.
Erscheinungsjahr:
2008
Erschienen in
Annals of Applied Statistics, 2
in:
S. 861 - 886