Femtosecond photoemission microscopy
5th International Conference on LEEM/PEEM (LEEM/PEEM 5) ; 15-19 October 2006, Himeji, Japan
In: Surface Science, Jg. 601 (2007), Heft 20, S. 4700 - 4705
2007Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Femtosecond photoemission microscopy
Konferenz
5th International Conference on LEEM/PEEM (LEEM/PEEM 5) ; 15-19 October 2006, Himeji, Japan
Autor*in:
Meyer zu Heringdorf, FrankUDE
- LSF ID
- 48700
- ORCID
- 0000-0002-5878-2012
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
korrespondierende*r Autor*in
- LSF ID
- 49260
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- 10445
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- GND
- 1201039908
- LSF ID
- 10366
- ORCID
- 0000-0003-0324-3457
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2007
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch