Jerman, Martin; Qiao, Zhaohui; Mergel, Dieter:
Refractive index of thin films of SiO2, ZrO2, and HfO2 as a function of the films' mass density
In: Applied Optics, Jg. 44 (2005), Heft 15, S. 3006 - 3012
2005Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel:
Refractive index of thin films of SiO2, ZrO2, and HfO2 as a function of the films' mass density
Autor*in:
Jerman, MartinUDE
LSF ID
47854
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Qiao, Zhaohui;Mergel, DieterUDE
LSF ID
10490
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2005