Hülser, Tim-Patrick; Lorke, Axel; Ifaecho, P.; Wiggers, Hartmut; Schulz, Christof:
Core and grain boundary sensitivity of tungsten-oxide sensor devices by molecular beam assisted particle deposition
In: Journal of Applied Physics, Jg. 102 (2007), Heft 12, S. 124305
2007Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
MaschinenbauPhysik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » ExperimentalphysikForschungszentren » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)Fakultät für Ingenieurwissenschaften » Maschinenbau und Verfahrenstechnik » Institut für Energie- und Material-Prozesse (EMPI)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Core and grain boundary sensitivity of tungsten-oxide sensor devices by molecular beam assisted particle deposition
Autor*in:
Hülser, Tim-PatrickUDE
LSF ID
48386
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Lorke, AxelUDE
GND
1042619697
LSF ID
2509
ORCID
0000-0002-0405-7720ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Ifaecho, P.;Wiggers, HartmutUDE
GND
172637171
LSF ID
1643
ORCID
0000-0001-8487-9937ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Schulz, ChristofUDE
GND
110671317
GND
1148037985
LSF ID
48807
ORCID
0000-0002-6879-4826ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2007
Sprache des Textes:
Englisch