Lochthofen, André; Mertin, Wolfgang; Bacher, Gerd; Furitsch, Michael; Brüderl, Georg; Härle, Volker:
Microscopic investigation of InGaN/GaN heterostructure laser diode degradation using Kelvin probe force microscopy
In: Journal of Physics D : Applied Physics, Jg. 41 (2008), Heft 13, S. 135115
2008Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
ElektrotechnikPhysik (inkl. Astronomie)MaterialtechnikForschungszentren » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Microscopic investigation of InGaN/GaN heterostructure laser diode degradation using Kelvin probe force microscopy
Autor*in:
Lochthofen, André;Mertin, WolfgangUDE
LSF ID
1452
ORCID
0000-0001-6792-6033ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Bacher, GerdUDE
GND
110666038
LSF ID
3929
ORCID
0000-0001-8419-2158ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Furitsch, Michael;Brüderl, Georg;Härle, Volker
Erscheinungsjahr:
2008
Sprache des Textes:
Englisch