Schulze-Kraasch, Folkert; Velling, Peter; Prost, Werner:
Characterisation of ultra-thin III/V-heterostructures by convergent-beam-electron- and high-resolution-X-ray-diffraction
In: Materials Science and Engineering B : Solid-State Materials for Advanced Technology, Jg. 110 (2004), Heft 2, S. 161 - 167
2004Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Bauelemente der Höchstfrequenzelektronik
Titel in Englisch:
Characterisation of ultra-thin III/V-heterostructures by convergent-beam-electron- and high-resolution-X-ray-diffraction
Autor*in:
Schulze-Kraasch, FolkertUDE
LSF ID
1458
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Velling, PeterUDE
LSF ID
1460
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Prost, WernerUDE
LSF ID
1459
ORCID
0000-0003-0249-5927ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2004
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch