Plümel, Ingo; Wiggers, Hartmut; Lorke, Axel:
In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
In: Technische Mitteilungen, Organ des Haus der Technik e.V, Band 99 (2006), S. 68 - 73
2006Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Maschinenbau
Titel:
In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
Autor*in:
Plümel, IngoUDE
LSF ID
10016
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Wiggers, HartmutUDE
GND
172637171
LSF ID
1643
ORCID
0000-0001-8487-9937ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Lorke, AxelUDE
GND
1042619697
LSF ID
2509
ORCID
0000-0002-0405-7720ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2006
WWW URL:
http://www.hdt-essen.de
Erschienen in
Technische Mitteilungen, Organ des Haus der Technik e.V
in:
Band 99 (2006), S. 68 - 73
ISSN
0040-1439 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
Signatur der UB:
79 Z 74