Krenzer, Boris; Hanisch-Blicharski, Anja; Schneider, P.; Payer, Thomas; Möllenbeck, Simone; Osmani, Orkahn; Kammler, Martin; Meyer, Ralf; Horn-von Hoegen, Michael:
Phonon confinement effects in ultrathin epitaxial bismuth films on silicon studied by time-resolved electron diffraction
In: Physical Review B : Condensed matter and materials physics, Jg. 80 (2009), Heft 2, S. 24307
2009Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » ExperimentalphysikForschungszentren » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Phonon confinement effects in ultrathin epitaxial bismuth films on silicon studied by time-resolved electron diffraction
Autor*in:
Krenzer, Boris;Hanisch-Blicharski, AnjaUDE
LSF ID
12007
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Schneider, P.;Payer, ThomasUDE
LSF ID
46752
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Möllenbeck, Simone;Osmani, OrkahnUDE
LSF ID
49749
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Kammler, MartinUDE
LSF ID
50189
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Meyer, RalfUDE
LSF ID
13388
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Horn-von Hoegen, MichaelUDE
GND
1201039908
LSF ID
10366
ORCID
0000-0003-0324-3457ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2009
DOI
10.1103/PhysRevB.80.024307
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
Physical Review B : Condensed matter and materials physics
Erscheinungsort:
College Park
Verlag:
American Physical Society (APS)
in:
Jg. 80 (2009), Heft 2, S. 24307
ISSN
1550-235X Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
2469-9969 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
1098-0121 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
2469-9950 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
1473011-X
Signatur der UB:
67 P 5
Notiz:
1.1970 - 92.2015
Nachfolger:
Physical Review B