Thermal response of epitaxial thin Bi films on Si(001) upon femtosecond laser excitation studied by ultrafast electron diffraction
In: Physical Review B : Condensed matter and materials physics, Jg. 77 (2008), Heft 12, S. 125410
2008Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » ExperimentalphysikForschungszentren » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
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Titel in Englisch:
Thermal response of epitaxial thin Bi films on Si(001) upon femtosecond laser excitation studied by ultrafast electron diffraction
Autor*in:
Hanisch-Blicharski, AnjaUDE
- LSF ID
- 12007
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- LSF ID
- 48392
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- GND
- 1201039908
- LSF ID
- 10366
- ORCID
-
0000-0003-0324-3457
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2008
Sprache des Textes:
Englisch
Erscheinungsort:
College Park
Verlag:
American Physical Society (APS)
in:
Jg. 77 (2008), Heft 12, S. 125410
ISSN
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ZDB ID
Signatur der UB:
Notiz:
1.1970 - 92.2015