Diesing, Detlef; Kovacs, Domocos; Stella, Kevin; Heuser, Christian:
Characterization of atom and ion-induced "internal" electron emission by thin film tunnel junctions
In: Nuclear instruments & methods in physics research / Section B, Beam interactions with materials and atoms, Jg. 269 (2011), Heft 11, S. 1185 - 1189
2011Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
ChemieFakultät für Chemie » Physikalische Chemie
Titel:
Characterization of atom and ion-induced "internal" electron emission by thin film tunnel junctions
Autor*in:
Diesing, DetlefUDE
LSF ID
11102
ORCID
0000-0002-5587-2557ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Kovacs, Domocos;Stella, Kevin;Heuser, ChristianUDE
LSF ID
47555
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2011
DOI
10.1016/j.nimb.2010.12.034
Erschienen in
Nuclear instruments & methods in physics research / Section B, Beam interactions with materials and atoms
in:
Jg. 269 (2011), Heft 11, S. 1185 - 1189
Signatur der UB:
67 Z 78