Horn-von Hoegen, Michael; Gotter, U.; Henzler, M.:
LEED investigations of Si MBE on Si(100)
In: Proc. NATO-Workshop on RHEED and Reflection Electron Imaging of Surfaces / Larsen, P.K. (Hrsg.). - 1988
1988Buchaufsatz/Kapitel in Sammelwerk
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » Experimentalphysik
Titel:
LEED investigations of Si MBE on Si(100)
Autor*in:
Horn-von Hoegen, MichaelUDE
GND
1201039908
LSF ID
10366
ORCID
0000-0003-0324-3457ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Gotter, U.;Henzler, M.
Erschienen in
Proc. NATO-Workshop on RHEED and Reflection Electron Imaging of Surfaces
Herausgeber*in:
Larsen, P.K.
Erscheinungsjahr:
1988