Modifications of the electronic structure of Ni/Cu(001) as a function of the film thickness
In: Physical Review B : Condensed matter and materials physics, Jg. 56 (1997), Heft 8, S. R4398 - R4401
Titel in Englisch:
Modifications of the electronic structure of Ni/Cu(001) as a function of the film thickness
Autor*in:
Srivastava, P.
- Sonstiges
- korrespondierende*r Autor*in
- GND
- 12115226X
- LSF ID
- 47290
- ORCID
- 0000-0001-8395-3541
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
1997
Sprache des Textes:
Englisch