Phonon confinement effects in ultrathin epitaxial bismuth films on silicon studied by time-resolved electron diffraction
In: Physical Review B : Condensed matter and materials physics, Jg. 80 (2009), Heft 2, S. 24307
2009Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » ExperimentalphysikForschungszentren » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
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Titel in Englisch:
Phonon confinement effects in ultrathin epitaxial bismuth films on silicon studied by time-resolved electron diffraction
Autor*in:
Krenzer, Boris;Hanisch-Blicharski, AnjaUDE
- LSF ID
- 12007
- Sonstiges
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- 46752
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- 13388
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- GND
- 1201039908
- LSF ID
- 10366
- ORCID
- 0000-0003-0324-3457
- Sonstiges
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Erscheinungsjahr:
2009
Sprache des Textes:
Englisch