Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien für den aufwandsoptimierten Integrationstest
In: Informatik 2006 - Informatik für Menschen / Hochberger, Christian; Liskowsky, R. (Hrsg.). - Informatik 2006 - Informatik für Menschen : 2. - 6. Oktober 2006 in Dresden. 2 - Bonn: Gesellschaft für Informatik, 2006, S. 264 - 265
2006Buchaufsatz/Kapitel in Tagungsband
Wirtschaftswissenschaften
Titel in Deutsch:
Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien für den aufwandsoptimierten Integrationstest
Autor*in:
Reis, S.;Metzger, AndreasUDE
- GND
- 129831530
- LSF ID
- 12274
- ORCID
- 0000-0002-4808-8297
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- GND
- 135789125
- LSF ID
- 5105
- ORCID
- 0000-0003-2199-5257
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Sprache des Textes:
Deutsch