Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien für den aufwandsoptimierten Integrationstest
In: Informatik 2006 - Informatik für Menschen / Hochberger, Christian; Liskowsky, R. (Eds.). - Informatik 2006 - Informatik für Menschen : 2. - 6. Oktober 2006 in Dresden. 2 - Bonn: Gesellschaft für Informatik, 2006, pp. 264 - 265
2006book article/chapter in Proceedings
Economics
Title in German:
Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien für den aufwandsoptimierten Integrationstest
Author:
Reis, S.;Metzger, AndreasUDE
- GND
- 129831530
- LSF ID
- 12274
- ORCID
- 0000-0002-4808-8297
- Other
- connected with university
- GND
- 135789125
- LSF ID
- 5105
- ORCID
- 0000-0003-2199-5257
- Other
- connected with university
Language of text:
German