Simultaneous measurement of liquid water film thickness and vapor temperature using near-infrared tunable diode laser spectroscopy
In: Applied Physics B : Lasers and Optics, Jg. 99 (2010), Heft 3, S. 385 - 390
2010Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
MaschinenbauFakultät für Ingenieurwissenschaften » Maschinenbau und Verfahrenstechnik » Institut für Energie- und Material-Prozesse (EMPI)
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Titel in Englisch:
Simultaneous measurement of liquid water film thickness and vapor temperature using near-infrared tunable diode laser spectroscopy
Autor*in:
Yang, HuinanUDE
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- 50301
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- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- LSF ID
- 49366
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- LSF ID
- 47223
- ORCID
- 0000-0001-8313-4992
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- GND
- 1148037985
- LSF ID
- 48807
- ORCID
- 0000-0002-6879-4826
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Erscheinungsjahr:
2010
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch