In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
In: Technische Mitteilungen, Organ des Haus der Technik e.V, Vol. 99 (2006), pp. 68 - 73
2006article/chapter in journal
Mechanical Engineering
Title:
In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
Author:
Plümel, IngoUDE
- LSF ID
- 10016
- Other
- connected with university
- GND
- 172637171
- LSF ID
- 1643
- ORCID
- 0000-0001-8487-9937
- Other
- connected with university
- GND
- 1042619697
- LSF ID
- 2509
- ORCID
- 0000-0002-0405-7720
- Other
- connected with university
Year of publication:
2006
WWW URL: