Single-shot electron bunch length measurements using a spatial electro-optical autocorrelation interferometer
In: Review of Scientific Instruments, Jg. 81 (2010), Heft 10, S. 104702
2010Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Allgemeine und Theoretische Elektrotechnik
Titel in Englisch:
Single-shot electron bunch length measurements using a spatial electro-optical autocorrelation interferometer
Autor*in:
Sütterlin, Daniel;Erni, DanielUDE
- GND
- 1175897205
- LSF ID
- 47126
- ORCID
-
0000-0002-1467-6373
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2010
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
Titel in Englisch (abgekürzt):
Rev. Sci. Instrum.
Titel in Englisch (abgekürzt):
Rev. of Sci. Instrum.
Erscheinungsort:
Melville
Verlag:
American Institute of Physics (AIP)
in:
Jg. 81 (2010), Heft 10, S. 104702
ISSN
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ZDB ID
Signatur der UB: