Diagnosis and Prognosis for Complicated Industrial Systems—Part II
In: IEEE Transactions on Industrial Electronics (T-IE), Jg. 63 (2016), Heft 5, S. 3201 - 3204
2016Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
MaschinenbauFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
Titel in Englisch:
Diagnosis and Prognosis for Complicated Industrial Systems—Part II
Autor*in:
Yin, Shen;Ding, Steven X.UDE
- GND
- 134302427
- LSF ID
- 2347
- ORCID
-
0000-0002-5149-5918
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- LSF ID
- 1501
- ORCID
-
0000-0003-0169-8490
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2016
IEEE ID
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
Titel in Englisch (abgekürzt):
IEEE Trans Ind Electron
Erscheinungsort:
Piscataway
Verlag:
IEEE
in:
Jg. 63 (2016), Heft 5, S. 3201 - 3204
ISSN
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ZDB ID
Signatur der UB:
Ressourcentyp:
Text