Dreiner, Stefan; Kappert, Holger; Kordas, Norbert; Alfring, Michael; Kokozinski, Rainer; Braun, Sebastian; Kelberer, Andreas:
High Temperature EEPROM Using a Differential Approach for High Reliability
International Conference on High Temperature Electronics Network 2017 (HiTEN 2017) ; 10 - 12 July 2017, Cambridge, UK
In: Additional Conferences (Device Packaging, HiTEC, HiTEN, & CICMT) (2017), S. 42 - 45
2017Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
MaterialtechnikElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Elektronische Bauelemente und Schaltungen
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
High Temperature EEPROM Using a Differential Approach for High Reliability
Konferenz
International Conference on High Temperature Electronics Network 2017 (HiTEN 2017) ; 10 - 12 July 2017, Cambridge, UK
Autor*in:
Dreiner, Stefan;Kappert, Holger;Kordas, Norbert;Alfring, Michael;Kokozinski, RainerUDE
GND
173084451
LSF ID
50200
ORCID
0000-0003-3416-3310ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Braun, Sebastian;Kelberer, Andreas
Erscheinungsjahr:
2017
DOI
10.4071/2380-4491.2017.hiten.42
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
Additional Conferences (Device Packaging, HiTEC, HiTEN, & CICMT)
Verlag:
IMAPS
in:
S. 42 - 45
ISSN
2380-4491 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
2902932-6
Ressourcentyp:
Text