Chen, Hongtian; Jiang, Bin; Ding, Steven X.; Lu, Ningyun; Chen, Wen:
Probability-Relevant Incipient Fault Detection and Diagnosis Methodology With Applications to Electric Drive Systems
In: IEEE Transactions on Control Systems Technology (T-CST), Jg. 27 (2019), Heft 6, S. 2766 - 2773
2019Artikel/Aufsatz in ZeitschriftClosed access
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
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Titel in Englisch:
Probability-Relevant Incipient Fault Detection and Diagnosis Methodology With Applications to Electric Drive Systems
Autor*in:
Chen, Hongtian
ORCID
0000-0002-8600-9668ORCID iD
;Jiang, Bin
ORCID
0000-0002-9153-4360ORCID iD
;Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Lu, Ningyun
ORCID
0000-0002-9964-7677ORCID iD
;Chen, Wen
ORCID
0000-0002-8726-8602ORCID iD
Erscheinungsjahr:
2019
Open Access?:
Closed access
DOI
10.1109/TCST.2018.2866976
IEEE ID
8457495
Scopus ID
85053127861
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
IEEE Transactions on Control Systems Technology (T-CST)
Titel in Englisch (abgekürzt):
IEEE Trans Control Syst Technol
Erscheinungsort:
Piscataway
Verlag:
IEEE
in:
Jg. 27 (2019), Heft 6, S. 2766 - 2773
ISSN
1558-0865 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
1063-6536 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
2027378-2
Signatur der UB:
88 Z 168
Ressourcentyp:
Text
Schlagwort, Thema:
Bayes methods ; Bayesian inference ; electric drive systems ; Fault detection ; incipient faults ; Kullback-Leibler divergence (KLD) ; Mathematical analysis ; Principal component analysis ; probability-relevant principal component analysis (PRPCA). ; Standards
DESTATIS Fachsystematik:
7100 Elektrotechnik allgemein