Yu, Han; Yang, Shuting; Ding, Steven X.; Dai, Zhongcheng; Yin, Shen:
A Data-Driven Fault Detection Scheme for Complex Industrial Systems Using Riemannian Metric and Randomized Algorithms
In: IEEE International Symposium on Industrial Electronics - 29th International Symposium on Industrial Electronics (ISIE), 17-19 June 2020, Delft, Netherlands - Piscataway: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2020, S. 1193 - 1198
2020Buchaufsatz/Kapitel in Tagungsband
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
Titel in Englisch:
A Data-Driven Fault Detection Scheme for Complex Industrial Systems Using Riemannian Metric and Randomized Algorithms
Autor*in:
Yu, Han
;Yang, Shuting
;Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Dai, Zhongcheng
;Yin, Shen
DOI
10.1109/ISIE45063.2020.9152552
IEEE ID
9152552
Scopus ID
85089518188
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
IEEE International Symposium on Industrial Electronics
Konferenz
29th International Symposium on Industrial Electronics (ISIE), 17-19 June 2020, Delft, Netherlands
Erscheinungsort:
Piscataway
Verlag:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Erscheinungsjahr:
2020
in:
S. 1193 - 1198
ISBN
9781728156354
ISBN
978-1-7281-5634-7
ISBN
978-1-7281-5636-1
Schlagwort, Thema:
Data driven ; fault detection ; randomized algorithms ; Riemannian metric ; uncertainties