Latz, Andreas; Sindermann, Simon; Brendel, Lothar; Dumpich, Günter; Meyer zu Heringdorf, Frank; Wolf, Dietrich:
Simulation of electromigration effects on voids in monocrystalline Ag films
In: Physical Review B : Condensed matter and materials physics, Jg. 85 (2012), Heft 3, S. 035449
2012Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » Theoretische PhysikFakultät für Physik » ExperimentalphysikForschungszentren » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Simulation of electromigration effects on voids in monocrystalline Ag films
Autor*in:
Latz, AndreasUDE
LSF ID
53288
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Sindermann, SimonUDE
LSF ID
51046
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Brendel, LotharUDE
LSF ID
1802
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Dumpich, GünterUDE
LSF ID
1107
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Meyer zu Heringdorf, FrankUDE
LSF ID
48700
ORCID
0000-0002-5878-2012ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Wolf, DietrichUDE
GND
1273280393
LSF ID
1114
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2012
DOI
10.1103/PhysRevB.85.035449
Scopus ID
84856473559
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
Physical Review B : Condensed matter and materials physics
Erscheinungsort:
College Park
Verlag:
American Physical Society (APS)
in:
Jg. 85 (2012), Heft 3, S. 035449
ISSN
1550-235X Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
2469-9969 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
1098-0121 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
2469-9950 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
1473011-X
Signatur der UB:
67 P 5
Notiz:
1.1970 - 92.2015
Nachfolger:
Physical Review B