Yin, Shen; Ding, Steven X.; Haghani Abandan Sari, Adel; Hao, Haiyang:
Data-driven monitoring for stochastic systems and its application on batch process
In: International Journal of Systems Science, Jg. 44 (2013), Heft 7, S. 1366 - 1376
2013Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
TechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
Titel in Englisch:
Data-driven monitoring for stochastic systems and its application on batch process
Autor*in:
Yin, Shen;Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Haghani Abandan Sari, AdelUDE
LSF ID
52408
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Hao, Haiyang
Erscheinungsjahr:
2013
DOI
10.1080/00207721.2012.659708
Scopus ID
84866132201
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
International Journal of Systems Science
Erscheinungsort:
London [u.a.]
Verlag:
Taylor and Francis Ltd.
in:
Jg. 44 (2013), Heft 7, S. 1366 - 1376
ISSN
1464-5319 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
0020-7721 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
Signatur der UB:
79 Z 87
Schlagwort, Thema:
batch process ; data-driven design approach ; kernel density estimation ; process monitoring ; test statistics