Zhang, Kai; Shardt, Yuri A. W.; Chen, Zhiwen; Yang, Xu; Ding, Steven X.; Peng, Kaixiang:
A KPI-based process monitoring and fault detection framework for large-scale processes
In: ISA Transactions, Band 68 (2017), S. 276 - 286
2017Artikel/Aufsatz in ZeitschriftClosed access
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
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Titel in Englisch:
A KPI-based process monitoring and fault detection framework for large-scale processes
Autor*in:
Zhang, Kai
;
Shardt, Yuri A. W.
Sonstiges
korrespondierende*r Autor*in
;
Chen, ZhiwenUDE
LSF ID
53691
ORCID
0000-0002-4759-0904ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Yang, Xu
;
Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Peng, Kaixiang
Erscheinungsjahr:
2017
Open Access?:
Closed access
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch
Schlagwort, Thema:
Data-driven subspace ; KPI ; Large-scale ; Least square ; Process monitoring
Ressourcentyp:
Text