Luo, H.; Ding, Steven X.; Zhang, K.; Yin, S. (Hrsg.):
A data-driven fault detection approach for static processes with deterministic disturbances
In: 2014 IEEE 23rd International Symposium on Industrial Electronics (ISIE 2014) : proceedings - 23rd International Symposium on Industrial Electronics (ISIE 2014) : Istanbul, Turkey, 1 - 4 June 2014 - Piscataway, NJ: IEEE, 2014, S. 2404 - 2409
2014Buchaufsatz/Kapitel in Tagungsband
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
Titel in Englisch:
A data-driven fault detection approach for static processes with deterministic disturbances
Herausgeber*in:
Luo, H.;Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Zhang, K.;Yin, S.
DOI
10.1109/ISIE.2014.6864996
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
2014 IEEE 23rd International Symposium on Industrial Electronics (ISIE 2014) : proceedings
Konferenz
23rd International Symposium on Industrial Electronics (ISIE 2014) : Istanbul, Turkey, 1 - 4 June 2014
Erscheinungsort:
Piscataway, NJ
Verlag:
IEEE
Erscheinungsjahr:
2014
in:
S. 2404 - 2409
ISBN
978-1-4799-2400-4
ISBN
978-1-4799-2399-1