Beer, Maik; Schrey, Olaf M.; Hosticka, Bedrich; Kokozinski, Rainer:
Expected value and variance of the indirect time-of-flight measurement with dead time afflicted single-photon avalanche diodes
In: IEEE Transactions on Circuits and Systems, Part I : Regular Papers, Jg. 65 (2018), Heft 3, S. 970 - 981
2018Artikel/Aufsatz in ZeitschriftClosed access
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Elektronische Bauelemente und Schaltungen
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Expected value and variance of the indirect time-of-flight measurement with dead time afflicted single-photon avalanche diodes
Autor*in:
Beer, Maik
ORCID
0000-0002-4392-775XORCID iD
;
Schrey, Olaf M.
;
Hosticka, BedrichUDE
LSF ID
1309
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Kokozinski, RainerUDE
GND
173084451
LSF ID
50200
ORCID
0000-0003-3416-3310ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2018
Open Access?:
Closed access
IEEE ID
Web of Science ID
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch
Schlagwort, Thema:
Continuous wave ; dead time ; Distance measurement ; light detection and ranging (LIDAR) ; Lighting ; Modulation ; photon counting ; Photonics ; pulsed light ; range imaging ; single-photon avalanche diode (SPAD) ; Standards ; Time measurement ; time-of-flight (TOF).