Expected value and variance of the indirect time-of-flight measurement with dead time afflicted single-photon avalanche diodes
In: IEEE Transactions on Circuits and Systems, Part I : Regular Papers, Jg. 65 (2018), Heft 3, S. 970 - 981
2018Artikel/Aufsatz in ZeitschriftClosed access
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Elektronische Bauelemente und Schaltungen
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Titel in Englisch:
Expected value and variance of the indirect time-of-flight measurement with dead time afflicted single-photon avalanche diodes
Autor*in:
Beer, Maik
- ORCID
- 0000-0002-4392-775X
- LSF ID
- 1309
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- GND
- 173084451
- LSF ID
- 50200
- ORCID
- 0000-0003-3416-3310
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2018
Open Access?:
Closed access
IEEE ID
Web of Science ID
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch
Schlagwort, Thema:
Continuous wave ; dead time ; Distance measurement ; light detection and ranging (LIDAR) ; Lighting ; Modulation ; photon counting ; Photonics ; pulsed light ; range imaging ; single-photon avalanche diode (SPAD) ; Standards ; Time measurement ; time-of-flight (TOF).