Jiang, Qingchao; Ding, Steven X.; Wang, Yang; Yan, Xuefeng:
Data-Driven Distributed Local Fault Detection for Large-Scale Processes Based on the GA-Regularized Canonical Correlation Analysis
In: IEEE Transactions on Industrial Electronics (T-IE), Jg. 64 (2017), Heft 10, S. 8148 - 8157
2017Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Data-Driven Distributed Local Fault Detection for Large-Scale Processes Based on the GA-Regularized Canonical Correlation Analysis
Autor*in:
Jiang, Qingchao
;
Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
korrespondierende*r Autor*in
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Wang, Yang
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Yan, Xuefeng
Sonstiges
korrespondierende*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2017
IEEE ID
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch
Schlagwort, Thema:
Canonical correlation analysis (CCA) ; distributed fault detection ; genetic algorithm (GA) ; large-scale processes
Ressourcentyp:
Text