Chen, Zhiwen; Zhang, Kai; Shardt, Yuri A. W.; Ding, Steven X.; Yang, Xu; Yang, Chunhua; Peng, Tao:
Comparison of Two Basic Statistics for Fault Detection and Process Monitoring
In: IFAC-PapersOnLine, Jg. 50 (2017), Heft 1, S. 14776 - 14781
2017Artikel/Aufsatz in ZeitschriftOA Bronze
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Comparison of Two Basic Statistics for Fault Detection and Process Monitoring
Autor*in:
Chen, ZhiwenUDE
LSF ID
53691
ORCID
0000-0002-4759-0904ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Zhang, KaiUDE
LSF ID
54704
ORCID
0000-0002-3708-8945ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Shardt, Yuri A. W.
;
Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Yang, Xu
;
Yang, Chunhua
;
Peng, Tao
Erscheinungsjahr:
2017
Open Access?:
OA Bronze
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch
Schlagwort, Thema:
multivariate statistical fault detection ; process monitoring ; Q statistic ; T2 statistic