Haghani, Adel; Ding, Steven X.; Jeinsch, Torsten; Hao, Haiyang; Luo, Hao:
MAP criterion for condition-based maintenance in industrial processes
In: 2013 Conference on Control and Fault-Tolerant Systems (SysTol 2013) - Conference on Control and Fault-Tolerant Systems (SysTol), 2013, 9 - 11 Oct. 2013, Hotel Le Negresco, Nice, France - Piscataway: IEEE, 2013, S. 413 - 418
2013Buchaufsatz/Kapitel in Tagungsband
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
Titel in Englisch:
MAP criterion for condition-based maintenance in industrial processes
Autor*in:
Haghani, AdelUDE
LSF ID
52408
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Jeinsch, Torsten
;Hao, Haiyang
;Luo, HaoUDE
LSF ID
54702
ORCID
0000-0003-2143-2438ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
DOI
10.1109/SysTol.2013.6693914
Scopus ID
84897704886
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
2013 Conference on Control and Fault-Tolerant Systems (SysTol 2013)
Konferenz
Conference on Control and Fault-Tolerant Systems (SysTol), 2013, 9 - 11 Oct. 2013, Hotel Le Negresco, Nice, France
Erscheinungsort:
Piscataway
Verlag:
IEEE
Erscheinungsjahr:
2013
in:
S. 413 - 418
ISBN
9781479928552
ISSN
2162-1209 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
Schlagwort, Thema:
Corrective action ; Data-driven methods ; Decision making ; Fault detection and isolation ; Quality monitoring