Sekunda, Andre; Ding, Steven X.; Kjolstad Poulsen, Niels; Niemann, Henrik:
Closed Loop Fault Detectability Based on a Gap-Metric
In: 2018 IEEE Conference on Control Technology and Applications - CCTA, 21-24 Aug. 2018 - Piscataway: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2018, S. 380 - 385
2018Buchaufsatz/Kapitel in Tagungsband
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
Titel in Englisch:
Closed Loop Fault Detectability Based on a Gap-Metric
Autor*in:
Sekunda, Andre
;Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Kjolstad Poulsen, Niels
;Niemann, Henrik
DOI
10.1109/CCTA.2018.8511620
Scopus ID
85056875451
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
2018 IEEE Conference on Control Technology and Applications
Konferenz
CCTA, 21-24 Aug. 2018
Erscheinungsort:
Piscataway
Verlag:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Erscheinungsjahr:
2018
in:
S. 380 - 385
ISBN
978-1-5386-7698-1
ISBN
978-1-5386-7699-8