Chen, Hongtian; Jiang, Bin; Ding, Steven X.:
A Broad Learning Aided Data-Driven Framework of Fast Fault Diagnosis for High-Speed Trains
In: IEEE Intelligent Transportation Systems Magazine, Jg. 13 (2021), Heft 3, S. 83 - 88
2021Artikel/Aufsatz in ZeitschriftClosed access
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
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Titel in Englisch:
A Broad Learning Aided Data-Driven Framework of Fast Fault Diagnosis for High-Speed Trains
Autor*in:
Chen, Hongtian
;
Jiang, Bin
;
Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2021
Open Access?:
Closed access
IEEE ID
Web of Science ID
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch